對該系列PI薄膜進行X射線（XRD）測試表征，分析其聚集態結構的變化情況。
經過試驗，PI薄膜的XRD曲線中相對強而尖銳的衍射峰集中出現在2θ為100° ~ 300°，且其強度及尖銳程序隨著DAPBO單體含量的增加而逐漸增強， 表明該類型的PI薄膜在一定程度上開始具有結晶性。其中，相對于PI-10-0而言，PI-8-2XRD曲線上的衍射峰強度較弱，而PI-4-6、PI-1-9、P[-0-10薄膜XRD曲線上的衍射峰強度依次增強。這可能是由于PI-10-0中僅含有PDA和ODA兩種二胺單體，兩者與二酐單體s-BPDA進行無序反應，形成具有一定空間位阻效應的分子鏈堆積結構，而微量DAPBO單體的加人，與s-BPDA形成了新的直線型結構s-BPDA/DAPBO分子鏈，此時雖沒有形成長程有序結
構，卻打亂了原有重復單元中的有序結構，不利于結晶的形成，因此PI-8-2 XRD曲線上的衍射峰減弱。隨著DAPBO單體的不斷加入，形成越來越多的直線型s-BPDA/DAPBO分子鏈，在高溫亞胺化的過程中形成了很強的分子鏈間作用力和長程有序結構，分子鏈間的強相互作用作為物理交聯點，限制了鏈段的運動，使得分子鏈間堆砌密度增大，宏觀表現為相對較高的結晶度，因此對應的XRD曲線上衍射峰變得強而尖銳。
